Skip to content ↓

Wydziałowe Laboratorium Mikroskopii Skaningowej i Mikroanalizy

Kierownik laboratorium:

dr hab. inż. Magdalena Ziąbka, prof. AGH
tel.: 12 617 25 23
email: ziabka(at)agh.edu.pl

Pracownicy laboratorium:

dr inż. Agnieszka Wojteczko
tel.: 12 617 51 39
email: agdudek(at)agh.edu.pl

Lokalizacja laboratorium:

Pawilon B-6, niski parter, pok. 05


Oferta dla przemysłu/jednostek badawczo-rozwojowych:

  • Wysokorozdzielcze badania mikrostruktury materiałów przewodzących, nieprzewodzących i podatnych na kontaminację w wysokiej i niskiej próżni, przy wysokich i niskich napięciach  przyspieszających.
  • Możliwość obserwacji powierzchni materiałów w systemie detekcji elektronów  wtórnych (SE) i elektronów wstecznie rozproszonych (BSE). Zdolność rozdzielcza do 2 nm,  powiększenia 70 – 500 000x. Badania mikrostruktury materiałów proszkowych, świeżych przełamów i zgładów.
  • Analizy chemiczne pierwiastków w próbkach począwszy od boru do końca układu okresowego. Możliwość wykonywania analizy ilościowej pierwiastkowej i tlenkowej; rozkład pierwiastków w mikroobszarach („mapping”), a także analizy liniowe.

Urządzenia

Osoby odpowiedzialne za urządzenie:

dr hab. inż. Magdalena Ziąbka, prof. AGH
tel.: 12 617 25 23
email: ziabka(at)agh.edu.pl

Lokalizacja urządzenia: 

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki AGH 

Opis urządzenia:

Ultra wysokorozdzielczy skaningowy mikroskop elektronowy z działem z emisją polową (FEG – emiter SCHOTKYEGO) – NOVA NANO SEM 200 (producent FEI EUROPE COMPANY) współpracujący z analizatorem EDS firmy EDAX.

Osoby odpowiedzialne za urządzenie
dr hab. inż. Magdalena Ziąbka, prof. AGH
tel.: 12 617 25 23
email: ziabka(at)agh.edu.pl

Lokalizacja urządzenia:

 

Opis urządzenia:

Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL  JSM 5400 współpracujący z mikroanalizatorem rentgenowskim  EDS, LINK ISIS  300 firmy Oxford Instrument.

Stopka